Автор(ы): Chaixpluchery O., Abello L., Lucazeau G., Chenevier B., Madar R.
Заглавие: Исследование КР монокристаллов и тонких пленок тетрагонального WSi[2]
Оригинальное заглавие: A Raman study of single crystal and thinfilm tetragonal WSi[2]
Язык: Англ.
Источник: J. Phys. and Chem. Solids 5, 1996, т.57, стр.527-537
Ключевые слова: пленки; монокристаллы
