( 544) # 22Б2544
Автор(ы): Henderson G. S., Fleet M. E.
Заглавие: Исследование структуры титано-силикатного стекла с использованием абсорбционной рентгеновской спектроскопии на краю поглощения К-уровня атома кремния
Оригинальное заглавие: The structure of titanium silicate glasses investigated by Si K-edge X-ray absorption spectroscopy
Язык: Англ.
Источник: J. Non-Cryst. Solids 3, 1997, т.211, стр.214-221
Ключевые слова: стекла; спектры рентгеновские; кремний

Реферат: С использованием метода ДТСРСП и исследования структуры вблизи края рентгеновского спектра поглощения исследована структура стекол системы TiO[2]-SiO[2]. Найдено что окружение Si подобно во всех стеклах. Добавление TiO[2] оказывает небольшое влияние на сетку SiO[2] и не приводит к значительным искажениям как в тетраэдрах SiO[4] так и в углах связи Si-O-Si. Рассчитанные длины связи Si-O сохраняются равными около 0,16 нм даже для стекол, содержащих 11,6 мол.% TiO[2]. Не наблюдалось образования кластеров Ti в областях с высоким содержанием Ti. Библ. 41