( 577) # 22Б2577
Автор(ы): Груздев В. Е., Либенсон М. Н., Марциновский Г. А.
Заглавие: Применение ближнепольной микроскопии для исследования поверхностного оптического пробоя прозрачных сред
Язык: Рус.
Источник: Поверхность: Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2, 1998, стр.37-44
Ключевые слова: микроскопия; поверхностные свойства

Реферат: Природа поверхностного оптического пробоя обычно связывается с исходно существующими и индуцированными излучением дефектами. Для их излучения предложено использовать методы и приборы ближнепольной сканирующей оптич. микроскопии (БСОМ). В отличие от большинства методик высокого разрешения (АСМ, РЭМ, СТМ), используемых для исследования поверхности, БСОМ позволяет получать достаточно полную информацию как о локальных оптических свойствах и микроструктуре поверхности, так и о распределении световых полей на поверхности. С помощью БСОМ можно также изучать эволюцию поверхностных дефектов под действием мощных полей. Рассмотрены основные принципы применения БСОМ для исследования поверхностного оптического пробоя прозрачных диэлектриков