( 610) # 22Б2610
Автор(ы): Vasilyuk G., Maskevich S., Sveklo I.
Заглавие: Тонкие пленки серебра: сравнительное изучение методами атомно-силовой микроскопии, рентгеновской дифракции и спектрофотометрии
Оригинальное заглавие: Thin silver films: atomic-force microscopy, X-ray diffraction and spectrophotometry comparative study
Язык: Англ.
Источник: Pittsburgh Conf. Anal. Chem. and Appl. Spectrosc., New Orleans, La, March 1-5, 1998: PITTCON'98: Book Abstr., 1998, стр.1914P
Ключевые слова: серебро; пленки; микроскопия; рентгенография; спектрофотометрия

Реферат: Морфология тонких серебряных пленок (ТСП) определяет не только их оптические и адсорбционные свойства, но и стабильность. Изображения, полученные с помощью атомно-силового микроскопа, показывают, что после термической (350°C) и химической (ацетонитрилом, пропанолом и пропантиолом) обработки происходит сглаживание неровностей нанометрового масштаба. ТСП толщиной 10-15 нм приобретают квазирегулярную структуру с островками полуэллиптической формы. Химическая модификация пропантиолом при его высокой концентрации приводит к образованию на поверхности ТСП сетеподобной структуры высотой около 70 нм