Автор(ы): Popa N. C.
Заглавие: Зависимость расширения дифракционных линий от (hkl) вызываемых напряжением и размером для всех групп Лауэ при уточнении по Ритвельду
Оригинальное заглавие: The (hkl) dependence of diffraction-line broadening caused by strain and size for all Laue groups in Rietveld refinement
Язык: Англ.
Источник: J. Appl. Crystallogr. 2, 1998, т.31, стр.176-180
Ключевые слова: рентгенография
