( 197) # 24Б2197
Автор(ы): Ramanan R. R., Niranjana S., Goswami N., Lal K.
Заглавие: Исследование структурных несовершенств в природных алмазах типа I с помощью рентгеновских дифракционных методов высокого разрешения
Оригинальное заглавие: Study of structural imperfections in natural type I diamonds by high-resolution X-ray diffraction techniques
Язык: Англ.
Источник: Acta crystallogr. A 2, 1998, т.54, стр.163-171
Ключевые слова: кристаллы дефекты; алмаз; рентгенография

Реферат: Пять натуральных алмазов с различными степенями несовершенства, относящиеся по данным ИК-Фурье-спектроскопии к типу Iа исследованы методами дифрактометрии высокого разрешения с использованием трехкристального и четырехкристального дифрактометров, рентгеновской топографии и диффузного рассеяния. Для отражающей плоскости (111) и излучения Мо Kальфа[1] рассчитаны значения абсолютной интегральной интенсивности, которые лежат в пределах от 2,4*10{-5} до 76*10{-5} рад. В изученных алмазах выявлены кластеры из точечных дефектов с размерами от 40 до 190 нм, объем кластерных дефектов лежит в диапазоне от 1*10{-25} до 28*10{-25} м{3}