Автор(ы): Rief M., Gautel M., Fernandez J., Oesterhelt P., Li H., Gaub H. E.
Заглавие: Спектроскопия сил отдельных молекул методом атомной силовой микроскопии
Оригинальное заглавие: Single molecule force spectroscopy by afm
Язык: Англ.
Источник: Chimia 7, 1997, т.51, стр.363
Ключевые слова: микроскопия
