Автор(ы): Fefer E., Kronik L., Leibovitch M., Shapira Y., Riedl W.
Заглавие: In-sity мониторинг химии поверхности и переноса заряда на поверхностях полупроводников
Оригинальное заглавие: In-situ monitoring of surface chemistry and charge transfer at semiconductor surfaces: [Pap.] 5th Int. Conf. Form. Semicond. Interfaces (ICFSI-5), Princeton, N. J., June 26-30, 1995
Язык: Англ.
Источник: Appl. Surface Sci., 1996, т.104-105, стр.61-67
Ключевые слова: переноса процесс; электрический заряд; полупроводники; поверхности
