( 217) # 22Б2217
Автор(ы): Фоменко Л. С., Лубенец С. В., Фейчук П. И., Щербак Л. П.
Оригинальное заглавие: Изучение локальной дефектной структуры кристаллов CdTe-Ge методом микроиндентирования
Язык: Рус.
Источник: Физ. тверд. тела 2, 1998, т.40, стр.264-268
Ключевые слова: кристаллы дефекты; кристаллическая структура; кристаллы рост

Реферат: Показана эффективность использования метода микроиндентирования для контроля качества кристаллов теллурида кадмия. Неоднородное распределение структурных дефектов как вдоль направления роста, так и по диаметру слитка отчетливо фиксируется в измерениях микротвердости и длины дислокационных лучей розетки укола. Подвижность альфа-дислокаций более чувствительна к неоднородностям структуры по сравнению с подвижностью бета-дислокаций и микротвердостью. Установлено качественное соответствие между характеристиками микропластичности и концентрацией германия: жесткость кристалла резко увеличивается, начиная с концентрации ЭКВИВ1*10{17} at./cm{3}, и не чувствительна к изменению содержания Ge в интервале от 3*10{16} до 1*10{17} at./cm{3}. Проанализирована корреляция между величиной микротвердости и длиной дислокационных лучей розетки около отпечатка индентора. Получена оценка величины твердости чистого CdTe