( 460) # 22Б2460
Автор(ы): Бдикин И. К., Маштаков А. Д., Можаев П. Б., Овсянников Г. А.
Оригинальное заглавие: Особенности двойниковой структуры эпитаксиальных пленок YBa[2]Cu[3]O[7-x]
Язык: Рус.
Источник: Физ. тверд. тела 4, 1998, т.40, стр.609-611
Ключевые слова: сверхпроводники

Реферат: Методами рентгеновской дифракции исследованы пленки YBa[2]Cu[3]O[7-x] (YBCO) на NdGaO[3] (110) и гетероструктуре (100) CeO[2]/(1-102)Al[2]O[3]. Для получения дифракционных спектров от различных кристаллографических плоскостей применялись симметричная, несимметричная и аксиальная геометрии рентгеновского сканирования тэта и тэта/2тэта. Определены ориентационные и количественные характеристики двойникования пленок. При близости кристаллографических параметров этих двух типов пленок (пленки с-ориентированы с c=11.67 A) в структуре двойникования они имеют различия. В частности, особенности структуры NdGaO[3] приводят к возникновению угла, отличного от 90° (90.20°), между возможными плоскостями двойникования (110) и (1-10) в пленке YBCO и различному количеству двойниковых компонент в каждой системе двойников. Из анализа уширения рефлексов, чувствительных к двойникованию, для пленки YBCO на Al[2]O[3] с буферным слоем CeO[2] сделан вывод об отсутствии двойникования для 60% пленки