( 599) # 22Б2599
Автор(ы): Brandsch R., Bar G., Whangbo M.-H.
Заглавие: О факторах, влияющих на контраст изображения в топографическом и фазовом режимах теппинг-моды атомно-силовой микроскопии
Оригинальное заглавие: On the factors affecting the contrast of height and phase images in tapping mode atomic force microscopy
Язык: Англ.
Источник: Langmuir 24, 1997, т.13, стр.6349-6353
Ключевые слова: мономолекулярные слои; микроскопия

Реферат: Получены изображения самоорганизующихся монослоев, содержащих группы -S(CH[2])[15]-CH[3] и -S(CH[2])[15]COOH, обладающие различной гидрофильностью, на поликристаллической золотой подложке в топографическом и фазовом режимах атомно-силового микроскопа при различных значениях амплитуды колебаний свободного и нагруженного кантилевера. Для объяснения результатов приводятся качественные соотношения, определяющие контраст изображений. В топографическом режиме изображения с аномальным контрастом получаются, когда сдвиг фазы колебаний кантилевера на гидрофильном участке образца отрицателен и значительно превышает последний на менее гидрофильном. На участке поверхности, где существует притяжение между зондом и образцом, демпфирование амплитуды может быть существенным из-за снижения частоты и потери энергии колебаний кантилевера. Так как цепь обратной связи воспринимает демпфирование амплитуды как увеличение высоты рельефа, то расположенные ниже области гетерогенной поверхности могут выглядеть, как расположенные выше