( 827) # 22Б2827
Автор(ы): Megens M., Van Kats C. M., Bosecke P., Vos W. L.
Заглавие: Определение in situ характеристик коллоидных сферических частиц методом малоуглового рассеяния синхротронного рентгеновского излучения
Оригинальное заглавие: In situ characterization of colloidal spheres by synchrotron small-angle X-ray scattering
Язык: Англ.
Источник: Langmuir 23, 1997, т.13, стр.6120-6129
Ключевые слова: коллоиды; частицы; рентгеновские лучи; синхротронное излучение

Реферат: Метод малоуглового рассеяния рентгеновских лучей (МРР) от синхротронного источника использован для изучения полистирольного латекса и разбавленных суспензий кремнезема, в частности, для определения in situ среднего радиуса (СР) частиц, параметров распределения по размерам и толщины межфазных слоев. Найденные значения сопоставлены с результатами измерений, выполненых с применением статического (СС) и динамического светорассеяния (ДС), а также электронной микроскопии (ЭМ). Установлено, что СР, измеренные с использованием МРР, хорошо согласуются со СР, вычисленными из данных СС, выше СР, определенных методом ЭМ, и ниже - при использовании метода ДС. Почти все изученные частицы характеризуются одинаковой внутренней плотностью и резкой границей с дисперсионной средой. Толщина поверхностных слоев меньше 1 нм. Только в случае ступенчатого синтеза кремнезема обнаружено, что ядро частиц имеет повышенную плотность по сравнению с их оболочкой