Автор(ы): Hasegawa T.
Заглавие: Анализ поверхностей методом инфракрасной спектроскопии внешнего отражения. Анализ молекулярной ориентации сверхтонких органических пленок на неметаллической подложке
Оригинальное заглавие: Surface analysis by infrared external-reflection spectroscopy molecular. Oreintation analysis of organic ultra-thin films on non-metallic substrate
Язык: Яп.
Источник: Kagaku to kogyo 2, 1998, т.51, стр.151-154
Ключевые слова: поверхности анализ; пленки; спектроскопия ИК
